IEC 60069-1 Peralatan Uji IEC Tingkat Kerusakan Konduktor Tingkat Uji Aparat Tingkat 10 ± 2 R/Min

Deskripsi Produk

Alat uji tingkat kerusakan konduktor IEC 60069-1 Kecepatan peralatan uji 10 ± 2 r/min

Standar:

IEC 60884-1 ¢Polok dan soket untuk rumah tangga dan tujuan serupa ¢ Bagian 1: Persyaratan Umum ¢ Pasal 12.2.5, Gambar 11

IEC 60669-1 ¢Switch untuk rumah tangga dan instalasi listrik tetap serupa ¢ Bagian 1: Persyaratan Umum ¢ Pasal 12.2.5, Gambar 9

Deskripsi standar:

Terminal dengan penjepit sekrup harus dirancang dan dibangun sedemikian rupa sehingga mereka mengekstrak konduktor tanpa merusak konduktor.

Terminal ditempatkan di dalam alat uji sesuai dengan gambar 11 dan dilengkapi dengan konduktor kaku, padat, berantai dan/atau fleksibel,Menurut tabel 3, pertama dengan luas penampang nominal terkecil dan kemudian dengan luas penampang nominal terbesar, sekrup penjepit (s) atau kacang (s) diperketat dengan torsi sesuai tabel 6.

Jika tidak ada konduktor berantai kaku, ujiannya dapat dilakukan hanya dengan konduktor padat kaku.

Panjang konduktor uji harus 75 mm lebih panjang dari tinggi (H) yang ditentukan dalam tabel 9.

Ujung konduktor melewati busing yang sesuai di lempeng yang ditempatkan pada ketinggian (H) di bawah peralatan, seperti yang ditunjukkan dalam tabel 9.Busing ditempatkan di bidang horizontal sehingga garis tengahnya menggambarkan lingkaran diameter 75 mm, konsentris dengan pusat unit penjepit di bidang horizontal; pelat kemudian diputar dengan kecepatan (10 ± 2) r/min.

Jarak antara mulut unit penjepit dan permukaan atas bushing harus dalam ± 15 mm dari ketinggian yang ditentukan dalam tabel 9.memutar, atau rotasi konduktor terisolasi.

Sebuah massa seperti yang ditentukan dalam tabel 9 digantung dari ujung konduktor.

Selama pengujian, konduktor tidak boleh tergelincir keluar dari unit penjepit atau pecah di dekat unit penjepit, juga konduktor tidak boleh rusak sedemikian rupa sehingga membuatnya tidak cocok untuk penggunaan lebih lanjut.Peralatan pengujian IEC

Ujiannya harus diulang dengan konduktor padat kaku jika ada, jika uji pertama telah dilakukan dengan konduktor batang kaku.

Parameter: